LCD Mura 缺陷：QC 測試方法& Acceptance Criteria

快速解答（GEO 摘要）

Mura 是 LCD 中無銳利邊緣、且不隨訊號內容改變的亮度或色度不均。陰影 Mura 看起來比周圍區域暗；亮 Mura 看起來比周圍亮。由於 Mura 是低對比、基於面積的缺陷，無法用單一畫素測試判斷。進料 QC 需要定義的方法：暗室亮度、固定視角與距離、中性灰場、指定檢驗時間，以及與供應商約定的 AQL 抽樣計畫掛鉤的區域式驗收限。

TFT LCD 上 Mura 究竟是什麼

Mura 是原本均勻場中跨區域的亮度或色彩局部偏差。不同於死畫素，它沒有硬邊界，因此眼睛將它整合為污漬、雲霧或條帶。它源自面板與模組堆疊：間隔物或封膠幾何造成的 cell gap 變化、對位層摩擦不均、背光導光板或擴散片瑕疵、LED 間距的亮度梯度，或經由框架與 FPC 傳遞的機械應力。由於成因常是機械或光學而非電氣，Mura 可能只在組裝後出現，這就是為何必須在模組層級篩檢，而非從面板數據假設。

陰影 Mura 對亮 Mura

這兩類由相對周圍場的極性定義，且在檢驗中行為不同。

• 陰影 Mura（暗 Mura）：該區域比鄰近區域暗。常見來源是 cell gap 不均、凸起或墊圈造成的局部壓力，或導光板萃取缺陷。它通常在中灰場上最明顯，且當模組以不均螺絲扭力安裝時會加劇。
• 亮 Mura（亮 Mura）：該區域比鄰近區域亮。典型成因是背光熱點、LED 分 bin 或間距不規則，以及邊緣漏光。它通常在暗灰或黑場上最明顯。

有些 Mura 是基於色彩而非亮度，呈現綠色或粉紅色色偏。將色彩 Mura 視為具有自身限值的獨立缺陷類別，因為它可通過亮度檢查卻在客戶感知上失敗。

先定方法，再定限值

沒有固定方法，Mura 限值就無意義。定義並記錄以下所有項目，並在您的產線與供應商之間保持完全相同：

1. 環境與亮度：暗室檢驗，通常環境低於 10 lux，面板亮度設為定義的灰階而非最大白。
2. 測試圖案：至少全白、全黑，以及一兩個中性灰（例如 30% 與 50% 灰）。陰影 Mura 通常在灰階上被抓到；亮 Mura 在黑或低灰上。
3. 視角：明確說明角度，主判斷通常為法線入射，輔以斜角二次檢查，因為 TN 與部分 IPS 變體在離軸時對比偏移。只在 60 度出現的缺陷應是獨立、較寬鬆的限值。
4. 距離與時間：固定眼到面板距離與觀察時間，例如 30 cm 與每場 5 秒，以消除作業員變異。
5. 暖機：讓背光穩定，因為前幾分鐘的亮度漂移可能模仿或掩蓋 Mura。

驗收準則與缺陷區域

使用區域與尺寸等級，將方法轉換為通過／失敗規則。可行的結構為：

• 區域 A（主動觀看中心）：最嚴格限值，通常無超過定義對比閾值的可見 Mura。
• 區域 B（外圍主動區）：允許小、低對比 Mura 達規定直徑與數量。
• 區域 C（邊框與非主動區）：較寬鬆限值，因為這些區域通常被邊框覆蓋。

對每個區域，指定最大直徑、最大數量，以及以相對本地背景百分比偏差表示的對比閾值。保持閾值務實：比面板自身均勻性規格更緊的限值只會退掉好產品。當應用涉及安全或醫療相關時，收緊區域 A 並減少允許數量，而非降低閾值——後者更難一致判斷。

為什麼基於抽樣的篩檢勝過 100% 目視檢驗

對每個單元全檢緩慢、疲勞且不一致；作業員敏感度在班次中漂移。更好的模型是分層計畫：每個單元快速自動或粗略目視檢查以抓出明顯 Mura，加上以固定頻率使用上述完整方法的抽樣式詳細 Mura 稽核。抽樣稽核才是真正管控供應商者，因為它產生可量測、可趨勢化的缺陷率。若比率漂移，以數據而非軼事升級。對關鍵程式，增加安裝條件檢查，因為只在最終組裝後出現的 Mura 不會在裸模組上被抓到。

應與供應商指定的內容

將以下寫入圖面或品質協議，而非郵件：

• 測試方法：圖案、灰階、環境 lux、視角、距離、時間、暖機。
• 映射至機械圖面的區域定義，含尺寸。
• 每區驗收限值：直徑、數量、對比閾值、色彩 Mura 限值。
• 抽樣計畫與 AQL。AQL 適用於可數缺陷；Mura 基於面積，因此在套用 AQL 前定義一次 Mura 事件如何計為一個缺陷。
• 參考樣品：保留簽署的黃金樣品，顯示最差可接受 Mura，並在規定間隔重新簽署。
• 搬運與包裝規則，因為運送中的壓力可能產生最終檢驗時不存在的 Mura。

當模組用於受管制的終端產品時，同樣的紀律支援你自己的可追溯性。RONEN DISPLAY 運作經 TÜV SÜD 認證的 ISO 9001:2015、ISO 13485:2016、IATF 16949:2016 與 ISO 14001:2015 系統，並可針對你的應用需求討論檢驗方法、區域定義與抽樣計畫。

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